基于Flash Extractor芯片提取方案,受损Nand flash芯片数据分析,主控方案分析,TF一体盘引脚定义分析

Flash Extractor芯片分析电子取证技术2024培训报名,请发报名信息至:wd@wdsos.com
当前位置:首页 > 成功案例 > 闪存SSD鉴定案例 闪存SSD鉴定案例
南京数据恢复_金先生16GB金士顿SD卡数据恢复成功

 南京数据恢复_金先生16GB金士顿SD卡数据恢复成功H3Eflash extractor

客户单位:金先生16GB金士顿SD卡数据恢复成功H3Eflash extractor

设备:16GB金士顿SD卡H3Eflash extractor

故障:误格式化H3Eflash extractor

解决方案:南京西数工程师通过修复,较终将数据恢复成功H3Eflash extractor

恢复结果:100%H3Eflash extractor

客户反馈:满意H3Eflash extractor

上一篇:南京数据恢复_爱国者(aigo)4GB U盘数据恢复成功
下一篇:南京数据恢复_张先生金士顿4GB U盘数据恢复成功
Copyright(C)2014 西数科技(江苏)有限公司 wdsos.com 备案号:苏ICP备09074223号 苏公网安备:32010202010982号
地址:江苏省南京市玄武区珠江路435号华海大厦6楼601室(同庆楼右侧上电梯) 
地址:江苏省淮安市清江浦区枚皋路中兴软件园研发楼503室 
数据恢复:025-86883952  司法鉴定:13813824669 
|公众号|微博|论坛|百家号|