基于Flash Extractor芯片提取方案,受损Nand flash芯片数据分析,主控方案分析,TF一体盘引脚定义分析

Flash Extractor芯片分析电子取证技术2024培训报名,请发报名信息至:wd@wdsos.com
当前位置:首页 > 成功案例 > 硬盘检验检测案例 硬盘检验检测案例
晁先生1000G希捷硬盘开盘数据恢复成功
客户单位:晁先生1000G希捷硬盘开盘数据恢复成功hd9flash extractor
设备:ST1000LM024  SN:S30YJ9OO509523hd9flash extractor
故障:硬盘不能读取,磁头损坏,不认硬盘。hd9flash extractor
鉴定要求: 通过电子数据数据恢复与提取,恢复介质内全部文件。hd9flash extractor
解决方案:南京西数工程师通过检测,100级无尘实验室开盘修复,更换损坏部件,采用设备将硬盘镜像出来,较终将所需数据全部恢复出来。hd9flash extractor
鉴定方法 :hd9flash extractor
恢复结果:100%hd9flash extractor
数据交付:  拷贝方式交付hd9flash extractor
客户反馈:满意hd9flash extractor
检材图片:hd9flash extractor
hd9flash extractor
上一篇:杨小姐两块机械硬盘开盘数据恢复成功
下一篇:王先生WD硬盘开盘数据恢复成功
Copyright(C)2014 西数科技(江苏)有限公司 wdsos.com 备案号:苏ICP备09074223号 苏公网安备:32010202010982号
地址:江苏省南京市玄武区珠江路435号华海大厦6楼601室(同庆楼右侧上电梯) 
地址:江苏省淮安市清江浦区枚皋路中兴软件园研发楼503室 
数据恢复:025-86883952  司法鉴定:13813824669 
|公众号|微博|论坛|百家号|