基于Flash Extractor芯片提取方案,受损Nand flash芯片数据分析,主控方案分析,TF一体盘引脚定义分析

Flash Extractor芯片分析电子取证技术2024培训报名,请发报名信息至:wd@wdsos.com
当前位置:首页 > 成功案例 > 硬盘检验检测案例 硬盘检验检测案例
肖先生320G笔记本硬盘数据恢复成功

开盘数据恢复成功6cGflash extractor

客户单位:南京某公司6cGflash extractor

设备:WD3200BEVT   SN:WXC0AB9C80176cGflash extractor

故障:硬盘磁头损坏,6cGflash extractor

解决方案:南京西数工程师通过检测及专业设备,通过无尘室开盘将数据全部恢复出来6cGflash extractor

恢复结果:客户所需数据全部恢复6cGflash extractor

客户反馈:非常满意6cGflash extractor
6cGflash extractor
6cGflash extractor

上一篇:夏先生1TB硬盘数据恢复成功
下一篇:王先生320G台式机硬盘数据恢复成功
Copyright(C)2014 西数科技(江苏)有限公司 wdsos.com 备案号:苏ICP备09074223号 苏公网安备:32010202010982号
地址:江苏省南京市玄武区珠江路435号华海大厦6楼601室(同庆楼右侧上电梯) 
地址:江苏省淮安市清江浦区枚皋路中兴软件园研发楼503室 
数据恢复:025-86883952  司法鉴定:13813824669 
|公众号|微博|论坛|百家号|