基于Flash Extractor芯片提取方案,受损Nand flash芯片数据分析,主控方案分析,TF一体盘引脚定义分析

Flash Extractor芯片分析电子取证技术2024培训报名,请发报名信息至:wd@wdsos.com
成功案例

站内搜索

联系我们

  • 276570401
  • 025-83608636
  • 18651607829
当前位置：首页 > 成功案例 > 硬盘检验检测案例 硬盘检验检测案例
硬盘开盘数据恢复-刘先生希捷500G硬盘开盘数据恢复

修改时间:2018-04-11 13:38:48 浏览次数：次

 硬盘开盘数据恢复-刘先生希捷500G硬盘开盘数据恢复YUbflash extractor

 
客户单位：刘先生希捷500G硬盘开盘数据恢复成功
 
设备：ST3500820AS S/N:9QM66BTE      
 
故障：硬盘通电后有异响
 
解决方案：南京西数工程师通过检测修复，较终通过无尘室开盘将数据恢复成功
 
恢复结果：100%
 
客户反馈：满意
上一篇：江苏科思机电工程有限公司西数160G硬盘开盘数据恢复
下一篇：南京同仁医院西部数据1TB硬盘开盘数据恢复成功
网站首页 | 进度查询 | 关于我们 | 登记报修 | 付款方式 | 各地分店 | 固件下载
Copyright(C)2014 西数科技(江苏)有限公司 wdsos.com　备案号：苏ICP备09074223号 苏公网安备:32010202010982号
地址：江苏省南京市玄武区珠江路435号华海大厦6楼601室（同庆楼右侧上电梯）　
地址：江苏省淮安市清江浦区枚皋路中兴软件园研发楼503室　
数据恢复：025-86883952　 司法鉴定：13813824669　
|公众号|微博|论坛|百家号|