基于Flash Extractor芯片提取方案,受损Nand flash芯片数据分析,主控方案分析,TF一体盘引脚定义分析

Flash Extractor芯片分析电子取证技术2024培训报名,请发报名信息至:wd@wdsos.com
当前位置:首页 > 成功案例 > 硬盘检验检测案例 硬盘检验检测案例
蚌埠市苗先生西部数据320G硬盘数据恢复成功

 蚌埠市苗先生西部数据320G硬盘数据恢复成功P4iflash extractor

 
客户单位:硬盘数据恢复—蚌埠市苗先生西部数据320G硬盘数据恢复成功
 
设备:WD3200BEVT S/N:WXJ1A50J2003
 
故障:硬盘不识别
 
解决方案南京西数工程师通过检测修复,较终通过无尘室开盘数据恢复成功
 
恢复结果:客户所需数据全部恢复
 
客户反馈:满意 
 
 
-.jpg
上一篇:胡先生希捷1TB硬盘无尘室开盘数据恢复成功
下一篇:仓先生希捷120G硬盘不识别数据恢复成功
Copyright(C)2014 西数科技(江苏)有限公司 wdsos.com 备案号:苏ICP备09074223号 苏公网安备:32010202010982号
地址:江苏省南京市玄武区珠江路435号华海大厦6楼601室(同庆楼右侧上电梯) 
地址:江苏省淮安市清江浦区枚皋路中兴软件园研发楼503室 
数据恢复:025-86883952  司法鉴定:13813824669 
|公众号|微博|论坛|百家号|